Optical constants and thickness determination of La<mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" altimg="si187.svg" display="inline" id="d1e1363"><mml:msub><mml:mrow/><mml:mrow><mml:mn>2</mml:mn><mml:mo>/</mml:mo><mml:mn>3</mml:mn></mml:mrow></mml:msub></mml:math>Sr<mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" altimg="si188.svg" display="inline" id="d1e1375"><mml:msub><mml:mrow/><mml:mrow><mml:mn>1</mml:mn><mml:mo>/</mml:mo><mml:mn>3</mml:mn></mml:mrow></mml:msub></mml:math>MnO3 thin films on Nb:SrTiO3 substrates by spectro-ellipsometry: Combination of optical and X-ray techniques